手持式合金分析儀是一種基于光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲(chǔ)器組成。X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí)，會(huì)產(chǎn)生特征X射線。

手持式合金分析儀的性能特點(diǎn):

1、體積小、便攜，方便外出工作。

2、儀器既可手持進(jìn)行測試，也能使用座立式對(duì)樣品進(jìn)行較長時(shí)間的精細(xì)測試。

3、采用小功率端窗一體化微型光管，功耗小、激發(fā)效率高，結(jié)合使用大面積鈹窗電致冷探測器，使該手持式儀器具有與臺(tái)式機(jī)相近的地質(zhì)礦樣測試性能。

4、采用高分辨率PDA作主機(jī)，結(jié)合無線藍(lán)牙通訊的微型多道分析器技術(shù)，儀器使用方便靈活，在環(huán)境中，測試數(shù)據(jù)都盡在掌中。

5、針對(duì)地質(zhì)礦樣元素和金屬元素檢測的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時(shí)間短、操作簡易，對(duì)操作人員限制很小的特點(diǎn)。

6、金屬和礦樣類別的識(shí)別，多元素自動(dòng)定性定量分析以及多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

手持式合金分析儀是一種常見的進(jìn)行合金分析的設(shè)備，由X射線能量和材料之間的電子相互作用組成。適用于當(dāng)場迅速深入分析合金材料元素及型號(hào)，只有正確使用合金分析儀才能夠效率且準(zhǔn)確的完成檢測工作。

手持式合金分析儀的使用步驟：

1、使用前認(rèn)真閱讀本設(shè)備操作使用規(guī)程或使用說明書，仔細(xì)檢查儀器表面，如發(fā)現(xiàn)有明顯破損或異常現(xiàn)象應(yīng)立即更換。

2、儀器校正：在正式測試前，應(yīng)檢測“標(biāo)塊”，確認(rèn)檢測值正常，才能檢測產(chǎn)品。

3、測量前應(yīng)保證被測面露出金屬光澤。按下電源開關(guān)，儀器發(fā)出提示音，液晶屏幕顯示數(shù)據(jù)后，直接在觸摸屏上輸入1、2、3、4、E進(jìn)入操作界面（主界面）。

4、測量時(shí)把發(fā)射鏡貼近被測物體表面，按下把手上的檢測開關(guān)按鈕，此時(shí)工作提醒燈閃爍測量開始，待儀器發(fā)出提示音測量結(jié)束。

5、按“▼”/“▲”鍵翻看檢測數(shù)據(jù)。繼續(xù)檢測請(qǐng)則再次按下把手上的檢測開關(guān)按鈕。退出檢測界面按“←”回到主界面。

6、測量完畢后長按電源開關(guān)，關(guān)機(jī)，并將設(shè)備放置在防水設(shè)備箱內(nèi)。

手持合金分析儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲(chǔ)器組成。可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。

手持合金分析儀的原理：

是從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會(huì)釋放出能量，即為二次X射線光子。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。

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