鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)

實(shí)用特點(diǎn)一：0.5秒就可以無(wú)損測(cè)量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動(dòng)識(shí)別測(cè)量的基材。

實(shí)用特點(diǎn)二：市面上的鍍層測(cè)厚儀，在使用時(shí)都是需要校準(zhǔn)的，但林上的鍍層測(cè)厚儀LS223，無(wú)需校準(zhǔn)，只需凋零，儀器調(diào)零完畢后即可開(kāi)始測(cè)量。

實(shí)用特點(diǎn)三：儀器只有一個(gè)按鍵，省去繁瑣操作，測(cè)量更加的簡(jiǎn)單。

實(shí)用特點(diǎn)四：測(cè)頭采用真正的紅寶石，非常的耐磨和耐腐蝕，可以保證鍍層測(cè)厚儀LS223長(zhǎng)久有效的使用。

實(shí)用特點(diǎn)五：探頭采用了的數(shù)字探頭，這種探頭不容易收到干擾，而且還提供優(yōu)良的測(cè)試精度，即使溫度變化也不受影響。

實(shí)用特點(diǎn)六：有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm，F(xiàn)3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用，特別適用于大厚度的涂層檢測(cè)。

鍍層測(cè)厚儀在使用前為減少測(cè)量的誤差，可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：

1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。

2、按下按鍵，屏幕會(huì)提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。

3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。

4、完成后，可以把有標(biāo)準(zhǔn)值的測(cè)試片放在調(diào)零板上測(cè)量。測(cè)量的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片的誤差范圍之內(nèi)，則說(shuō)明儀器可以正常使用了。

鍍層測(cè)厚儀有兩種開(kāi)機(jī)使用方法。一種是探頭在測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)觸發(fā)開(kāi)機(jī)，并且直接顯示出測(cè)量結(jié)果。這是因?yàn)椴捎昧藬?shù)字探頭，非常的靈敏，會(huì)自動(dòng)識(shí)別出測(cè)量基材，并且自動(dòng)轉(zhuǎn)換。

還有一種是按鍵開(kāi)機(jī)。開(kāi)機(jī)儀器會(huì)顯示探頭型號(hào)，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

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