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  • 半導體鍍層分析儀 自動休眠 測量 穿透力強
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產品描述

可售賣地全國 測試范圍S-U 重量45Kg 分析時間60s(可調) 環境溫度15-30℃

鍍層測厚儀要求

1、不破壞的測量下具高精密度。

2、小的測定面積。

3、中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響。

4、同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜。

5、同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。


鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差,可以進行簡單的調零。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法:

1、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置,保持探頭的穩定。

2、按下按鍵,屏幕會提示壓緊探頭,再根據提示把探頭提起15cm以上。

3、屏幕顯示0.0則調零完畢。

4、完成后,可以把有標準值的測試片放在調零板上測量。測量的數值與標準測試片的誤差范圍之內,則說明儀器可以正常使用了。


半導體鍍層分析儀

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。

廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網印刷等行業中。特別適合用于生產現場的質量管控。


半導體鍍層分析儀

鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計,所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭,大量程厚可以測到5mm,F3N3的探頭,厚可以測到3mm。

在測量以mm為單位的鍍層厚度時,大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨,不滿意都可以退。


半導體鍍層分析儀

我們全體員工以飽滿的熱情,期待與五湖四海的新老朋友合作。一直秉承滿足用戶需求,至真至誠,著眼現在,放眼未來的經營理念。


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